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德國EPK2100膜厚計

簡要描述：MiniTest1100/2100/3100/4100包括四種不同的主機，各自具有不同的數(shù)據(jù)處理功能，可選配探頭，所有探頭都可配合任一主機使用。在選擇Z適用的探頭時需要考慮覆層厚度，基體材料以及基體的形狀、厚度、大小、幾何尺寸等因素。

  • 產(chǎn)品型號：EPK2100
  • 廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商
  • 更新時間：2025-07-01
  • 訪  問  量：1840
產(chǎn)品詳情
德國EPK2100膜厚計
MiniTest1100/2100/3100/4100涂鍍層測厚儀
德國EPK（Elektrophysik）公司涂鍍層測厚儀MiniTest1100/2100/3100/4100特點：
MiniTest1100/2100/3100/4100包括四種不同的主機，各自具有不同的數(shù)據(jù)處理功能；
所有型號均可配所有探頭；
可通過RS232接口連接MiniPrint打印機和計算機；
可使用一片或二片標準箔校準
德國EPK（Elektrophysik）公司 涂鍍層測厚儀MiniTest1100/2100/3100/4100技術(shù)特征
型號
1100
2100
3100
4100
MINITEST 存儲的數(shù)據(jù)量
應用行數(shù)（根據(jù)不同探頭或測試條件而記憶的校準基礎(chǔ)數(shù)據(jù)數(shù)）
1
1
10
99
每個應用行下的組（BATCH）數(shù)（對組內(nèi)數(shù)據(jù)自動統(tǒng)計計算，并可設(shè)寬容度極限值）
 
1
10
99
可用各自的日期和時間標識特性的組數(shù)
 
1
500
500
數(shù)據(jù)總量
1
10000
10000
10000
MINITEST統(tǒng)計計算功能
讀數(shù)的六種統(tǒng)計值x,s,n,max,min,kvar
 
√
√
√
讀數(shù)的八種統(tǒng)計值x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk
 
 
√
√
組統(tǒng)計值六種x,s,n,max,min,kvar
 
 
√
√
組統(tǒng)計值八種x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk
 
 
√
√
存儲顯示每一個應用行下的所有組內(nèi)數(shù)據(jù)
 
 
 
√
分組打印以上顯示和存儲的數(shù)據(jù)和統(tǒng)計值
 
 
√
√
顯示并打印測量值、打印的日期和時間
 
√
√
√
其他功能
設(shè)置極限值
 
 
√
√
連續(xù)測量模式快速測量，通過模擬柱識別zui大zui小值
 
 
√
√
連續(xù)測量模式中測量穩(wěn)定后顯示讀數(shù)
 
 
√
√
連續(xù)測量模式中顯示zui小值
 
 
√
√
德國EPK（Elektrophysik）公司涂鍍層測厚儀MiniTest1100/2100/3100/4100可選探頭參數(shù):

所有探頭都可配合任一主機使用。在選擇zui適用的探頭時需要考慮覆層厚度，基體材料以及基體的形狀、厚度、大小、幾何尺寸等因素。
F型探頭：測量鋼鐵基體上的非磁性覆層
N型探頭：測量有色金屬基體上的絕緣覆層
FN兩用探頭：同時具備F型和N性探頭的功能
探頭
量程
低端
分辨率
誤差
zui小曲率半徑
（凸/凹）
zui小測量
區(qū)域直徑
zui小基
體厚度
探頭尺寸
磁
感
應
法
 
 
 
 
 
 
 
F05
0-500μm
0.1μm
±（1%±0.7μm）
1/5mm
3mm
0.2mm
φ15x62mm
F1.6
0-1600μm
0.1μm
±（1%±1μm）
1.5/10mm
5mm
0.5mm
φ15x62mm
F1.6/90
0-1600μm
0.1μm
±（1%±1μm）
平面/6mm
5mm
0.5mm
φ8x8x170mm
F2/90
0-2000μm
0.2μm
±（1%±1μm）
平面/6mm
5mm
0.5mm
φ8x8x170mm
F3
0-3000μm
0.2μm
±（1%±1μm）
1.5/10mm
5mm
0.5mm
φ15x62mm
F10
0-10mm
5μm
±（1%±10μm）
5/16mm
20mm
1mm
φ25x46mm
F20
0-20mm
10μm
±（1%±10μm）
10/30mm
40mm
2mm
φ40x66mm
F50
0-50mm
10μm
±（3%±50μm）
50/200mm
300mm
2mm
φ45x70mm
兩
用
 
 
 
FN1.6
0-1600μm
0.1μm
±（1%±1μm）
1.5/10mm
5mm
F0.5mm/N50μm
φ15x62mm
FN1.6P
0-1600μm
0.1μm
±（1%±1μm）
平面
30mm
F0.5mm/N50μm
φ21x89mm
FN2
0-2000μm
0.2μm
±（1%±1μm）
1.5/10mm
5mm
F0.5mm/N50μm
φ15x62mm
電
渦
流
法
 
 
 
 
 
 
 
 
 
N02
0-200μm
0.1μm
±（1%±0.5μm）
1/10mm
2mm
50μm
φ16x70mm
N.08Cr
0-80μm
0.1μm
±（1%±1μm）
2.5mm
2mm
100μm
φ15x62mm
N1.6
0-1600μm
0.1μm
±（1%±1μm）
1.5/10mm
2mm
50μm
φ15x62mm
N1.6/90
0-1600μm
0.1μm
±（1%±1μm）
平面/10mm
5mm
50μm
φ13x13x170mm
N2
0-2000μm
0.2μm
±（1%±1μm）
1.5/10mm
5mm
50μm
φ15x62mm
N2/90
0-2000μm
0.2μm
±（1%±1μm）
平面/10mm
5mm
50μm
φ13x13x170mm
N10
0-10mm
10μm
±（1%±25μm）
25/100mm
50mm
50μm
φ60x50mm
N20
0-20mm
10μm
±（1%±50μm）
25/100mm
70mm
50μm
φ65x75mm
N100
0-100mm
100μm
±（1%±0.3mm）
100mm/平面
200mm
50μm
φ126x155mm
CN02
10-200μm
0.2μm
±（1%±1μm）
平面
7mm
無限制
φ17x80mm
F1.6/90、F2/90、N1.6/90、N2/90為直角探頭，用于管內(nèi)測量。
N.08Cr適合銅上鉻，F(xiàn)N2也適合銅上鉻。
CN02用于絕緣體上的有色金屬覆層
 
 

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