x射線熒光鍍層測厚儀
簡要描述:x射線熒光鍍層測厚儀德國菲希爾FISCHERSCOPE X-RAY XDLM237是一款應(yīng)用廣泛的能量色散型x射線鍍層測厚及材料分析儀。這款儀器專門是為測量分析極薄鍍層和超小含量而設(shè)計(jì),是用于質(zhì)量控制,質(zhì)量檢驗(yàn)和生產(chǎn)監(jiān)控的Z合適的測量儀器。
- 產(chǎn)品型號:X-RAY XDLM237
- 廠商性質(zhì):經(jīng)銷商
- 更新時(shí)間:2024-07-08
- 訪 問 量:17363
x射線熒光鍍層測厚儀德國菲希爾FISCHERSCOPE X-RAY XDLM237也稱為X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀,采用手動或自動方式,測量和分析微小結(jié)構(gòu)的印刷線路板、電氣元件及大規(guī)模生產(chǎn)的零部件上的鍍層。
x射線熒光鍍層測厚儀德國菲希爾FISCHERSCOPE X-RAY XDLM237典型的應(yīng)用領(lǐng)域有:
1,測量大規(guī)模生產(chǎn)的電鍍零部件
2,測量微小區(qū)域上的薄鍍層
3,測量電子工業(yè)或半導(dǎo)體工業(yè)中的功能性鍍層
4,全自動測量,如測量印刷線路板
德國菲希爾FISCHERSCOPE X-RAY XDLM237設(shè)計(jì)理念:
FISCHERSCOPE X-RAY XDLM237設(shè)計(jì)為界面友好的臺式測量儀器系列,配備了馬達(dá)驅(qū)動的X/Y工作臺,當(dāng)保護(hù)門開啟時(shí),工作臺會自動移到放置樣品的位置。馬達(dá)驅(qū)動的可編程Z軸升降系統(tǒng)。
高分辨率的彩色視頻攝像頭可方便定位測量位置。配備了激光點(diǎn),可以輔助定位并快速對準(zhǔn)測量位置。
測量箱底部的開槽是專為面積大而形狀扁平的樣品所設(shè)計(jì),由此儀器就可以測量比測量箱更長和更寬的樣品。例如:大型的印制電路板。
帶有放大功能和十字線的集成視頻顯微鏡簡化了樣品擺放,并且允許測量點(diǎn)的調(diào)整。
所有的儀器操作,以及測量數(shù)據(jù)的計(jì)算和測量數(shù)據(jù)報(bào)表的清晰顯示,都可以通過功能強(qiáng)大而界面友好的WinFTM?軟件在電腦上完成。
XDLM237型鍍層測厚及材料分析儀*DIN ISO 3497標(biāo)準(zhǔn)和ASTM B 568標(biāo)準(zhǔn),型式許可符合德國“Deutsche R?ntgenverordnung-R?V"法規(guī)規(guī)定。
為每次測量創(chuàng)造理想的激發(fā)條件,儀器配備可電動調(diào)整的多個準(zhǔn)直器和基本濾片。比例接收器能實(shí)現(xiàn)高計(jì)數(shù)率,這樣就可以進(jìn)行高精度測量。
FISCHERSCOPE?-X-RAY XDLM237系統(tǒng)有著出色的性和良好的長期穩(wěn)定性,這樣就不需要經(jīng)常校準(zhǔn)儀器,節(jié)省時(shí)間和精力。
由于采用了基本參數(shù)法,無論是鍍層系統(tǒng)還是固體和液體樣品,都能在沒有標(biāo)準(zhǔn)片的情況下進(jìn)行分析和測量。
德國菲希爾FISCHERSCOPE X-RAY XDLM237參數(shù)規(guī)格:
通用規(guī)格
設(shè)計(jì)用途 | 能量色散X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀 (EDXRF) 用來測量薄鍍層和微小結(jié)構(gòu), 分析合金和微量組分。 |
元素范圍 | 從元素 氯(17) 到 鈾(92) 配有可選的WinFTM? BASIC軟件時(shí),zui多可同時(shí)測定24種元素 |
形式設(shè)計(jì) | 臺式儀器,測量門向上開啟 |
測量方向 | 從上到下 |
X射線源
X射線管 | 帶鈹窗口的微聚焦鎢管 |
高壓 | 三檔: 30 kV,40 kV,50 kV |
孔徑(準(zhǔn)直器) 標(biāo)準(zhǔn)(523-440) 可選(523-366) 可選(524-061) | 4個可切換準(zhǔn)直器 [mm]: ?0.1, ?0.2, 0.05x0.05, 0.2x0.03 [mm]: ?0.1, ?0.2, ?0.3, 0.3x0.05 [mm]: ?0.1, ?0.2, 0.3 x 0.05, 0.05x0,05 其他可按要求定制 |
基本濾片 | 3種可切換的基本濾片(標(biāo)準(zhǔn)配置:鎳,鋁,無) |
測量點(diǎn) | 取決于測量距離及使用的準(zhǔn)直器大小, 實(shí)際的測量點(diǎn)大小與視頻窗口中顯示的* zui小的測量點(diǎn)大小: 光圈約? 0.1 mm(選用準(zhǔn)直器0.05x0.05 mm時(shí)) |
X射線探測
X射線接收器 測量距離 | 比例接收器 0 ~ 80 mm,使用保護(hù)的DCM測量距離補(bǔ)償法 |
視頻系統(tǒng)
視頻系統(tǒng) | 高分辨率CCD彩色攝像頭,沿著初級X射線光束方向觀察測量位置 手動聚焦,對被測位置進(jìn)行監(jiān)控 十字線(帶有經(jīng)過校準(zhǔn)的刻度和測量點(diǎn)尺寸) 可調(diào)節(jié)亮度的LED照明,激光光點(diǎn)用于定位樣品 |
放大倍數(shù) | 40x - 160x |
電氣參數(shù)
電源要求 | 交流 220 V 50 Hz |
功率 | zui大 120 W (不包括計(jì)算機(jī)) |
保護(hù)等級 | IP40 |
尺寸規(guī)格
外部尺寸 | 寬x深x高[mm]:570 x 760 x 650 |
內(nèi)部測量室尺寸 重量 | 寬x深x高[mm]:460 x 495 x 146 120kg |
工作臺 | |||
設(shè)計(jì) | 馬達(dá)驅(qū)動可編程X/Y平臺 | ||
zui大移動范圍 255 × 235 mm | |||
X/Y平臺移動速度 ≤ 80 mm/s | |||
X/Y平臺移動重復(fù)精度 ≤ 0.01 mm, 單向 可用樣品放置區(qū)域 300 × 350 mm Z軸 可編程運(yùn)行 | |||
Z軸移動范圍 140 mm | |||
樣品zui大重量 5 kg,降低精度可達(dá)20kg | |||
樣品zui大高度 140 mm | |||
環(huán)境要求 | |||
使用時(shí)溫度 | 10°C – 40°C | ||
存儲或運(yùn)輸溫度 | 0°C – 50°C | ||
空氣相對濕度 | ≤ 95 %, 無結(jié)露 | ||
計(jì)算單元 | |||
計(jì)算機(jī) | 帶擴(kuò)展卡的計(jì)算機(jī)系統(tǒng) | ||
軟件 | 標(biāo)準(zhǔn): WinFTM? V.6 LIGHT 可選: WinFTM? V.6 BASIC,PDM?,SUPER | ||
執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn) | |||
CE合格標(biāo)準(zhǔn) | EN 61010 | ||
X射線標(biāo)準(zhǔn) | DIN ISO 3497和 ASTM B 568 | ||
型式批準(zhǔn) | 安全而保護(hù)全面的測量儀器, 型式許可符合德國“Deutsche R?ntgenverordnung-R?V"法規(guī)規(guī)定。 | ||
訂貨號 | |||
FISCHERSCOPE X-RAY XDLM 237 | 604-347 | ||
如有特殊要求,可與FISCHER磋商,定制特殊的XDLM型號。